微分干涉显微镜下的屏幕瑕疵
微分干涉是显微成像技术中的扛鼎之作,它具有立体感强、成像清晰、细节丰富等特点。
1952年,Nomarski在相差显微镜原理的基础上发明了微分干涉显微镜,微分干涉英文简称DIC,是显微成像技术中的一种,分为观察水生物等透明样品用的透射DIC(生物DIC)和观察电路板等样品用的落射DIC(金相DIC)。在生物领域与相差显微镜相比,DIC的标本厚度可以略厚一点,而且立体感和细节更好。
微分干涉显微镜相较于一般的显微镜有四个特殊的光学组件:起偏器、检偏器、一对带滑行器的DIC棱镜(金相DIC只需一个DIC棱镜),并且搭配专门的DIC物镜进行微分干涉观察。
当我们用普通明场显微镜观察屏幕水晶膜样品损伤部位时,屏幕水晶膜样品损伤部位轮廓结构看不清晰,且样品的反差效果不明显,难以找到屏幕水晶膜的损伤部位,而我们利用明美微分干涉显微镜MJ43+MC50-S相机观察屏幕水晶膜损伤部位时,如图一、图二所示,我们可以很清晰的看到屏幕水晶膜的损伤部位的轮廓结构,且其结构边缘有很好的反差效果,使屏幕水晶膜样品损伤部位呈现出很好的立体浮雕的感觉,细节非常清晰明了。
明美是国家高新技术企业,创立至今已20年,专注于显微镜以及显微成像系统产品的研发、生产和销售,致力于显微成像领域的自动化、数字化、智能化;明美迄今已为全球10万+的用户提供过产品以及服务;明美曾屡获国家创新基金支持,被广东省科技厅认定为显微成像工程技术研究。